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SNJ54BCT8240AFK

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專業(yè)邏輯

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUF

參數(shù)名稱參數(shù)值
Product StatusActive
Logic TypeScan Test Device with Inverting Buffers
Supply Voltage4.5V ~ 5.5V
Number of Bits8
Operating Temperature-55°C ~ 125°C
Mounting TypeSurface Mount
Package/ Case28-CLCC
Supplier Device Package28-LCCC (11.43x11.43)

新聞資訊

Texas Instruments 專業(yè)邏輯 產(chǎn)品 SNJ54BCT8240AFK

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