
SN74BCT8240ANTG4
¥0.00
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
參數(shù)名稱(chēng) | 參數(shù)值 |
---|---|
Product Status | Obsolete |
Logic Type | Scan Test Device with Inverting Buffers |
Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
Number of Bits | 8 |
Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
Mounting Type | Through Hole |
Package/ Case | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Supplier Device Package | 24-PDIP |
新聞資訊
Texas Instruments 專(zhuān)業(yè)邏輯 產(chǎn)品 SN74BCT8240ANTG4
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